上海電子顯微鏡3DOM,3DOM顯微鏡分析,宜特檢測
高分辨率立體顯微鏡(3D OM)
3D OM (3D Optical microscope)具有大景深、傾斜角度檢測優(yōu)勢和**的量測功能，可針對(duì)各種不同高度的待測物體，進(jìn)行多角度的全方面對(duì)焦，并獲得清晰的影像進(jìn)行觀察。適合進(jìn)行零件焊接檢驗(yàn)和故障分析。
iST服務(wù)優(yōu)勢
宜特?fù)碛芯吒叻直媛实?D OM，不論景深多深，也能實(shí)現(xiàn)全對(duì)焦、超高速影像連接功能，且鏡頭可用手持的方式進(jìn)行觀測。
主要應(yīng)用范圍
零件芯片封裝檢驗(yàn)的缺點(diǎn)，如：外觀表面完整性、黑膠的裂痕、引腳變形或變色。
印刷電路板制程中可能產(chǎn)生的缺點(diǎn)，如﹕結(jié)*、織紋顯露、玻纖曝露、防焊漆、字樣。
各式電子產(chǎn)品中可能產(chǎn)生的缺點(diǎn)，如：焊接吃錫不良。
錫球數(shù)組封裝及覆芯片封裝中錫球的完整性檢驗(yàn)，如﹕錫球變形。
各式主、被動(dòng)組件外觀檢測分析。
各種材料分析量測。
機(jī)臺(tái)規(guī)格 / 特色
關(guān)于宜特：
iST始創(chuàng)于1994年的中國臺(tái)灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗(yàn)證、失效分析、材料分析、無線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現(xiàn)已有7座實(shí)驗(yàn)室12個(gè)服務(wù)據(jù)點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗(yàn)證第三方實(shí)驗(yàn)室。
**咨詢電話：8009880501
上海電子顯微鏡3DOM,3DOM顯微鏡分析,宜特檢測
