IC點針試驗,點針墊偵錯檢測,上海點針墊偵錯檢測試,宜特檢測
點針墊偵錯 (CAD Probe Pad)
FIB可在IC上做訊號擷取點。利用FIB將要量取之訊號點拉到IC表面，并利用機械式探針(Mechanical prober) 擷取IC內部訊號。
利用Mechanical prober量測訊號時，將IC放到測試板提供測試所需之電壓環(huán)境。一般IC內部訊號驅動能力較弱，可能推不動導線加上示波器的負載，造成方波變成三角波、DC準位降低等問題，可利用Active Probe來改善此現(xiàn)象。
關于宜特：
iST始創(chuàng)于1994年的中國臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、失效分析、材料分析、無線認證等技術服務。2002年進駐上海，全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務據(jù)點，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。
**服務熱線：8009880501
點針墊偵錯 (CAD Probe Pad)
