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ESD靜電測試(ESD &Latch-up)
長期以來，終端產(chǎn)品市場因EOS而客退情形不曾間斷，對終端產(chǎn)品的廠商而言除了在產(chǎn)品耐ESD設計/產(chǎn)線ESD防護以及成品ESD驗證外，對于產(chǎn)品所選用的IC其承受ESD的能力必須更加關注，因為若IC承受靜電能力弱，產(chǎn)品就不可能有良好的靜電承受能力。
過去IC ESD試驗大都以試驗到其所訂定的ESD防護等級(例如2KV)便停止試驗。近一年來，越來越多成品廠商要求其IC供貨商必須提出Testing to Fail的驗證與失效模式報告。經(jīng)由此種過程對IC設計者來說可以了解到IC脆弱點且可作為ESD電路設計上的參考。對成品廠商而言可了解其所選用的IC所能承受的靜電能力以及脆弱點以作為系統(tǒng)設計時參考，亦可在RMA失效分析時做為比對依據(jù)。
宜特靜電測試實驗室提供了人體放電模式(Human Body Mode)、機器放電模式(Machine Mode)、組件充/放電模式(Charge Device Mode)及閂鎖效應(Latch-up)等測試，同時也提供ESD的I-V Curve量測以及ESD失效分析。試驗則涵蓋了MIL-STD(美國軍規(guī)標準)和 EIA/JEDEC(日本靜電防護規(guī)章)，AEC(汽車電子協(xié)會)等測試服務。
關于宜特：
iST始創(chuàng)于1994年的中國臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、材料分析、失效分析、無線認證等技術服務。2002年進駐上海。全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務據(jù)點。目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。
ESD靜電測試(ESD &Latch-up)
