3D X-ray分析,3D X-ray顯微鏡分析,宜特檢測
超高解析度3D X-Ray顯微鏡
超高解析度3D X-Ray顯微鏡(High Resolution 3D X-Ray Microscope)是以非破壞性X射線******的技術，再搭配光學物鏡提高放大倍率進行實驗檢測，其實驗過程是將待測物體固定后進行360°旋轉(zhuǎn)，在這過程中收集各個不同角度的2D穿透影像，之后利用計算機運算重構出待測物體之實體影像。透過軟件，可針對待測物體進行斷層分析，將內(nèi)部結(jié)構逐一切割及顯現(xiàn)各層不同深度，使微小缺點能更清晰地顯現(xiàn)出來，進而達到判別缺點的目的。
主要應用：
IC封裝中的缺點檢驗如:打線的完整性檢驗、電測異常(open/short) 、黑膠的裂痕、銀膠及黑膠的氣泡。
印刷電路板及載板制程中可能產(chǎn)生的缺點，如﹕線路對齊不良或橋接以及開路、電鍍孔制程質(zhì)量檢驗、多層板各層線路配置分析。
各式電子產(chǎn)品中可能產(chǎn)生的開路，短路或不正常連接的缺點檢驗。
錫球數(shù)組封裝及覆芯片封裝中錫球的完整性檢驗:如錫球變形、錫裂、錫球空冷焊、錫球短路、錫球氣泡。
密度較高的塑料材質(zhì)破裂或金屬材質(zhì)空洞檢驗。
各式主、被動組件檢測分析。
各種材料結(jié)構檢驗分析及尺寸量測。
iST實驗室優(yōu)勢：
宜特為中國臺灣**建立3D X-Ray檢測服務的實驗室，擁有完整技術及測試經(jīng)驗。
業(yè)界特高階的3D X-Ray實驗設備，高解析度的實驗影像質(zhì)量。
20X光學物鏡提升實驗的放大倍率。
設備限制：
X-Ray物理特性限制下的低密度材料會無法檢視。
樣品尺寸必須小于300mm，較大承受重量<15KG。
設備限制：
X-Ray物理特性限制下的低密度材料會無法檢視。
樣品尺寸必須小于300mm，較大承受重量<15KG。
關于宜特：
iST始創(chuàng)于1994年的中國臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、失效分析、材料分析、無線驗證等技術服務。2002年進駐上海，全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務據(jù)點，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。
**服務熱線：8009880501
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